Parduotuvė

Filtrai

Skenavimo taikinys Ø80 mm

70.00  + PVM
Turime sandėlyje, 1 vienetas
Aliuminis skenavimo taikinys 3D lazeriniam skenavimui ir kontrolinių taškų žymėjimui taškų debesyje.…

Hi-Target HT-32 optinis nivelyras

Turime sandėlyje
Hi-Target HT-32 optinis niveliavimo prietaisas – profesionalus automatinis nivelyras su 32× optiniu didinimu ir X tipo oro kompensatoriumi, užtikrinančiu greitą ir tikslią automatinę lyginimo linijos…

Skenavimo taikinys Ø152 mm su magnetiniu pagrindu

180.00  + PVM
Turime sandėlyje, 1 vienetas
Skenavimo taikinys Ø152 mm su magnetiniu pagrindu, skirtas 3D skenavimui, skenų sujungimui ir kontroliniams taškams.…

Skenavimo taikinys Ø152 mm su magnetiniu pagrindu

180.00  + PVM
Turime sandėlyje, 1 vienetas
Ø152 mm skenavimo taikinys su magnetiniu pagrindu, skirtas lazeriniam skenavimui ir patikimam kontrolinių taškų žymėjimui.…

Skenavimo taikinys Ø100 mm

120.00  + PVM
Turime sandėlyje, 1 vienetas
Skenavimo taikinys Ø100 mm, skirtas 3D lazeriniam skenavimui, kontroliniams taškams ir taškų debesų sujungimui.…

Juodai baltas kvadratinis skenavimo taikinys 250 × 250 mm

10.00  + PVM
Turime sandėlyje,
Juodai baltas 250 × 250 mm skenavimo taikinys, skirtas 3D lazeriniam skenavimui ir kontrolinių taškų žymėjimui.…

Sferinė prizmė Ø38 mm su magnetiniu pagrindu

110.00  + PVM
Turime sandėlyje, 1 vienetas
Sferinė prizmė su Ø25,4 mm prizmės stiklu, Ø38 mm rutuliu ir magnetiniu pagrindu tiksliems matavimams su tacheometru.…

Sferinė prizmė Ø30 mm su magnetiniu pagrindu ir apsauginiu dangteliu

110.00  + PVM
Turime sandėlyje, 1 vienetas
Kompaktiška sferinė prizmė su Ø17,8 mm prizmės stiklu, Ø30 mm rutuliu, magnetiniu pagrindu ir apsauginiu dangteliu.…

Sferinė prizmė su magnetiniu pagrindu, 3–4″

190.00  + PVM
Turime sandėlyje, 1 vienetas
Sferinė prizmė su magnetiniu pagrindu, skirta tacheometriniams matavimams, monitoringui ir pakartojamam taško fiksavimui.…

Sferinė prizmė su mini bipodu, 3–4″

240.00  + PVM
Turime sandėlyje, 1 vienetas
Sferinė prizmė su mini bipodu, skirta stabiliam taško fiksavimui, monitoringui ir tacheometriniams matavimams.…